發布時間: 2022-08-30 來源:勤卓環試
在可程式恒溫恒濕(shī)試驗箱的世界裏,模擬高溫、低溫、濕熱環境便是它最(zuì)大的(de)使命,至於裏(lǐ)麵(miàn)是測試電子(zǐ)產品還是塑膠產品,汽車(chē)零部件還是消防器材都對它沒有任(rèn)何的影響。而對於樣品來說,它們在(zài)裏麵(miàn)所收到(dào)的一(yī)切苛刻溫度環境條件都將是證明品質的證據。今天小編想要和(hé)您談(tán)談,關於LED芯片(piàn)的失效分析。LED芯片作為LED光源最核心的部件,質量決(jué)定著產品的性能及可靠(kào)性。芯片製造工藝多達數(shù)十道甚至上百道,結構(gòu)複雜,尺寸微小(微米級),任何一道工藝或結構異常都會導致芯片失效。同時(shí)芯片較為脆弱,任何不當使用都可能會損(sǔn)傷芯片,使得芯片在使用過(guò)程中出現失效。
通過數千個LED芯片失效分析案例證(zhèng)明,可將其失(shī)效原因分為以下幾大類:1.封(fēng)裝工藝影響。2.過電應力。3.LED燈具散熱不良(liáng)。4.芯(xīn)片工藝異常。5.芯片結構設計不合理。6.芯片外延質(zhì)量問題。7.外環境影(yǐng)響。