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可程式恒(héng)溫恒濕試驗箱之LED芯片失效分(fèn)析

發布時間: 2022-08-30    來源:勤卓環試   

       在可程式恒溫恒濕(shī)試驗箱的世界裏,模擬高溫、低溫、濕熱環境便是它最(zuì)大的(de)使命,至於裏(lǐ)麵(miàn)是測試電子(zǐ)產品還是塑膠產品,汽車(chē)零部件還是消防器材都對它沒有任(rèn)何的影響。而對於樣品來說,它們在(zài)裏麵(miàn)所收到(dào)的一(yī)切苛刻溫度環境條件都將是證明品質的證據。今天小編想要和(hé)您談(tán)談,關於LED芯片(piàn)的失效分析。LED芯片作為LED光源最核心的部件,質量決(jué)定著產品的性能及可靠(kào)性。芯片製造工藝多達數(shù)十道甚至上百道,結構(gòu)複雜,尺寸微小(微米級),任何一道工藝或結構異常都會導致芯片失效。同時(shí)芯片較為脆弱,任何不當使用都可能會損(sǔn)傷芯片,使得芯片在使用過(guò)程中出現失效。

      通過數千個LED芯片失效分析案例證(zhèng)明,可將其失(shī)效原因分為以下幾大類:1.封(fēng)裝工藝影響。2.過電應力。3.LED燈具散熱不良(liáng)。4.芯(xīn)片工藝異常。5.芯片結構設計不合理。6.芯片外延質(zhì)量問題。7.外環境影(yǐng)響。

可程式恒溫恒濕試驗箱

     可程式恒溫恒濕試驗箱就是為LED芯片提(tí)供外環(huán)境的可靠性試驗設備之一。其低溫可達0/-20/-40/-60℃【可選】,高溫可達150℃。濕度範圍可達20%~98%。勤卓作為十多年的可程式恒(héng)溫恒(héng)濕試驗箱生產廠家,在試驗機的結構上,采用的是水電分離(lí)的(de)結(jié)構(gòu),有效的防止了試驗機在運行過程中出現水電(diàn)交叉故障。在試驗(yàn)機的水路設計上采(cǎi)用的是外加濕的結構,合理便捷的設計,讓水(shuǐ)路清潔更加的簡單方便。
     勤(qín)卓(kingjo)十多年專業研發生產(chǎn)高低溫試驗箱/可(kě)程式恒溫恒(héng)濕試驗箱/高低溫(wēn)濕熱交變試驗箱/步入式恒(héng)溫恒濕實驗室/大型高低溫(wēn)老化房/高低溫濕熱交變試驗機/複層式高低溫試驗箱/三箱式高低溫冷熱衝擊試驗箱/吊籃式(shì)高低溫冷(lěng)熱衝擊試驗箱/低(dī)溫低濕實驗室/高溫高濕老化房/高溫老化試驗箱(xiāng)/甲醛試驗箱/氙燈加速老化(huà)試驗箱/臭氧老化試驗箱(xiāng)等可靠(kào)性環境試驗設備。

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