• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電（diàn）子產品、各（gè）種電子（zǐ）元器件，在高溫、低溫（wēn）或濕熱環境下的各項性能指（zhǐ）標的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦無（wú）需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料（liào）、電工、電子（zǐ）產（chǎn）品（pǐn）、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環境下的各項性能指標的檢驗。試（shì）驗數據可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任

  

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• 適用於航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在（zài）高溫、低溫或濕熱環境下的各項性能指標（biāo）的檢驗。試驗數據可通過U盤拷貝，電腦（nǎo）無需安裝任

  

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• 適用於航（háng）空航天產（chǎn）品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產（chǎn）品、各種電子元器件，在高（gāo）溫（wēn）、低溫或濕熱環境下的各項性能（néng）指標的檢驗。試（shì）驗數據可通過U盤（pán）拷貝，電腦無需安裝任

  

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