發布時間: 2024-06-06 來源:勤(qín)卓環試
日韩天天综合(men)經常說,電子元器件要進(jìn)行環境溫度測試,但是卻從來沒有剖析過其(qí)測試時的物理反應。今天小編要和(hé)您(nín)分享的文章內容是,當(dāng)電子元器(qì)件進行高低溫試驗(yàn)箱-55℃測試物理反應有哪些?電子元器件進行(háng)低溫測(cè)試過程旨在模擬寒冷環境下的工作條件,以(yǐ)評估電子元器件在低溫條件下的性能表(biǎo)現和(hé)適應性。下(xià)麵,日韩天天综合將詳(xiáng)細探(tàn)討電子元器件在-55℃測試中所展現出的物理反應。
① 由於材料(liào)的熱脹冷縮性質,當溫度急劇下降(jiàng)時,元器(qì)件內部的各個部(bù)件和組(zǔ)件(jiàn)會發生收縮。這種收縮可能導致部件(jiàn)之間的配合間隙變小,甚至(zhì)可能出(chū)現相互卡住的現象。此外,一些金屬、塑料等材質的元器件在(zài)低溫下可能變得脆硬,容易發生脆裂損傷。
② 元器件的密封材料(liào)可能因收縮而失效,導致(zhì)密封性能下(xià)降。同時(shí),絕緣材料(liào)在低溫下也可能出現絕緣性(xìng)能降低的情況,增加了電路中的漏電風險。
③ 高低溫試驗箱-55℃低溫度下,電子元(yuán)器件的電阻值可能會發生變化,導(dǎo)致電流傳輸受(shòu)阻。此外,低溫還可能降低電容器的容量和穩定性,影響其在電路中的正常工作。對(duì)於一些依賴特定溫度範圍工(gōng)作的元器(qì)件,如溫度傳感器、熱敏電阻等,低(dī)溫環境(jìng)下其輸出信號可(kě)能會發生偏移,導致係統誤(wù)差。
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