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高(gāo)低溫濕熱交(jiāo)變試驗箱測試芯片產品的優勢

發布時間: 2025-03-31 11:51:56    來源:勤卓環試   

高低(dī)溫濕熱交變試驗箱在芯片產品測試中具有以下核心優勢:
一(yī)、‌全方位環境模擬能力‌
‌1.本款設備支持溫(wēn)度範圍達 ‌-70℃至+150℃‌,濕度範圍 ‌20%~98% RH‌(特殊需求可(kě)擴展至 ‌5% RH‌),可(kě)精準模擬芯(xīn)片(piàn)在寒冷(lěng)、高溫、幹燥、濕熱等複雜場景下的(de)工作環(huán)境。
2.高低溫濕熱交(jiāo)變試驗箱(xiāng)支持 ‌快速溫變速率‌(≥5℃/min)和 ‌濕度交變‌(20%→95% RH轉換≤20分鍾),滿足(zú)車載芯片冷熱衝擊、軍工芯片沙漠-高原切換等瞬時環境變(biàn)化需(xū)求。
‌3.複雜場景程序(xù)化模擬‌。支持 ‌1000段程序鏈式運行‌,可模擬晝夜溫差、季節循(xún)環等長(zhǎng)期環境變化,連續1000次交變無(wú)性能衰減,確保測試穩定性和(hé)長(zhǎng)期可靠性驗(yàn)證‌。

二、‌精準控製與可靠性驗證‌


高低溫濕熱交變試驗箱(xiāng)


1.‌高精度溫濕度控製‌。采用 ‌PLC智能控製係統‌,控溫精度達 ‌±0.5℃‌,控濕精度 ‌±2.5% RH‌,避免因溫濕度偏差導(dǎo)致的測試誤差。
2.優化高低溫濕熱交變試驗箱風道設計配合多翼式送風係統,確保測試區域(yù)溫濕度(dù)分布均勻性(波動(dòng)≤±1℃),減少樣品測試偏差。
‌3.加(jiā)速老化與缺陷暴露‌。通過 ‌溫度循環測試‌(如-50℃至+90℃交替)和 ‌濕(shī)熱交變‌,快速暴露芯片(piàn)焊點疲勞、封裝材料熱膨脹係(xì)數不匹配(pèi)、電遷移等潛在缺陷。
4.符合 ‌AEC-Q100/Q200、MIL-STD-810‌ 等行業標準,滿足汽車(chē)電子(zǐ)、軍工芯片等嚴苛場景的可靠(kào)性(xìng)驗證要求。
勤卓(kingjo)十多(duō)年專業研發生產可編程高(gāo)低溫濕熱交變試驗箱/複層式高低溫試驗箱/三箱(xiāng)式高低溫(wēn)冷熱衝擊試驗箱(xiāng)/大型高低溫老化房/步入式(shì)恒溫恒濕實驗室/吊籃式冷熱衝擊試驗箱/溫濕度循環(huán)檢測機/非線性高低(dī)溫快速溫變試驗箱/濕熱循(xún)環(huán)檢測機/步入式循環試驗箱/氙燈加速老(lǎo)化試驗箱/甲醛試驗箱/可編程高低溫(wēn)濕(shī)熱交變試(shì)驗(yàn)箱/可編(biān)程循環測試機等可靠性環境試驗設備。
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